S. Pawłowski, W. Olejniczak, A. Zbrowski, A. Majcher, M. Piskorski, G. Dobiński, M. Smolny, M. Chwiałkowski, A. Sędkowski, M. Mrozek STM/AFM system for application in high education and industry VI Seminarium „Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM”December 1 - 5 2010, Zakopane, Polska