E.Z. Frątczak, D.A. Kowalczyk, K. Pabianek, P. Dąbrowski, M. Rogala, J. Czerwińska, T. Kłąb, W. Kozłowski, A. Busiakiewicz, P.J. Kowalczyk, Z. Sieradzki, Z. Klusek Wykorzystanie technik skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań do badania wielowarstwowych wydruków Ink-Jet na potrzeby elektroniki elastycznej (poster) X Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2018November 28 - December 02 2018, Zakopane, Polska