Justyna Czerwińska

, mgr
Stanowisko:
specjalista naukowo-techniczny
E-mail:
Telefon:
(+48) 42 635-56-87
Pokój:
B 509
Ostatnie publikacje:
1
P. Krukowski, M. Piskorski, R. Udovytska, D.A. Kowalczyk, I. Lutsyk, M. Rogala, P. Dąbrowski, W. Kozłowski, B. Łuszczyńska, J. Jung, J. Ulański, K. Matuszek, A. Nadolska, P. Przybysz, W. Ryś, K. Toczek, R. Dunal, P. Krempiński, J. Czerwińska, M. Le Ster, M. Skulimowski and P.J. Kowalczyk
Graphene on quartz modified with rhenium oxide as a semitransparent electrode for organic electronics
Opto-Electronics Review, 30, 4, e141953 (2022) DOI:10.24425/opelre.2022.141953
Ostatnie konferencje:
3
P. Krukowski, M. Piskorski, R. Udovytska, D.A. Kowalczyk, I. Lutsyk, M. Rogala, P. Dąbrowski, W. Kozłowski, B. Łuszczyńska, J. Jung, J. Ulański, K. Matuszek, A. Nadolska, P. Przybysz, W. Ryś, K. Toczek, R. Dunal, P. Krempiński, J. Czerwińska, M. Le Ster, M. Skulimowski, P.J. Kowalczyk
Grafen na kwarcu zmodyfikowany tlenkiem renu jako anoda w konstrukcji organicznych diod elektroluminescencyjnych (OLED) i ogniw fotowoltaicznych (ORAL)
XXI KRAJOWA KONFERENCJA ELEKTRONIKI 05 - 09 czerwca 2022, Darłowo Polska
2
E.Z. Frątczak, D.A. Kowalczyk, K. Pabianek, P. Dąbrowski, M. Rogala, J. Czerwińska, T. Kłąb, W. Kozłowski, A. Busiakiewicz, P.J. Kowalczyk, Z. Sieradzki, Z. Klusek
Wykorzystanie technik skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań do badania wielowarstwowych wydruków Ink-Jet na potrzeby elektroniki elastycznej (poster)
X Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2018 28 listopada - 02 grudnia 2018, Zakopane, Polska
1
P.J. Kowalczyk, W. Kozłowski, A. Busiakiewicz, M. Rogala, P. Dąbrowski, S. Pawłowski, J. Czerwińska, E.Z. Frątczak, M. Piskorski, P. Krukowski, D.A. Kowalczyk, K. Pabianek, I. Lutsyk, Z. Klusek
Struktura elektronowa bizmutenu (poster)
X Seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań STM/AFM 2018 28 listopada - 02 grudnia 2018, Zakopane, Polska